Atomic Force Microscopy and its variants in advanced measurements

Osoba odpowiedzialna:

Kurs obejmuje zagadnienia z zakresu zasady działania, budowy urządzeń oraz zastosowania mikroskopii sił atomowych (AFM) oraz wybranych mikroskopii pochodnych. Omawiane są zastosowania tych mikroskopii do badania innych właściwości powierzchni niż jej topografia, takich jak skład chemiczny, występowanie domen magnetyczne, właściwości mechaniczne, elektryczne i termiczne w rozdzielczościach nanometrycznych.