Pracownia AFM

W Pracowni AFM znajduje się mikroskop sił atomowych (Atomic Force Microscope - AFM) MULTIMODE 8 firmy Bruker, zaliczany do rodziny mikroskopów z skanującą sondą (Scanning Probe Microscopy - SPM). Umożliwia on obrazowanie topografii powierzchni próbki z rozdzielczością nanometryczną. Możliwie jest określenie właściwości powierzchni takich jak szorstkość, wielkość ziaren, układów czy agregatów, czy rozmiary porów bądź rys. Skanowanie powierzchni wykonywane jest w trybach kontaktowym lub semikontaktowych Peak Force Tapping oraz Tapping. Dodatkowo sprzęt wyposażony jest w przystawkę ilościowego mapowania nanomechanicznego (QNM) oraz sondę diamentową umożliwiające badanie rozkładu właściwości mechanicznych, takich jak moduł DMT czy adhezja niespecyficzna, powierzchni próbki. Ponadto istnieje możliwość uzyskania dodatkowych informacji dzięki badaniu e.g. właściwości magnetycznych (Magnetic Force Microscopy - MFM) czy elektrostatycznych (Electrostatic Force Microscopy - EFM), czy też pomiarów z modyfikowaną sondą. Rozmiar badanych obszarów może wahać się między 100 μm w płaszczyźnie XY przy maksymalnie 5 μm w osi Z a ok. 250 nm w płaszczyźnie XY. Rozdzielczość pomiarów może osiągać w osi Z 0,02 nm, a w płaszczyźnie XY 2 nm (rozdzielczość jest zależna od charakterystyki próbki i trybu pracy mikroskopu). Pomiary można wykonywać zarówno w powietrzu jak i roztworach wodnych.


Formularz zlecenia na wykonanie pomiarów dla Wydziału (WIMiC AGH)


Kontakt