Dyfraktometria proszkowa (XRD):
Dyfraktometr rentgenowski X’Pert Pro firmy Philips (obecnie PANalytical) wraz z dodatkowym wyposażeniem:
Dyfraktometr proszkowy, dwukołowy o średnicy goniometru 240mm. Układ pracuje w geometrii Bragg-Brentano jak również w geometrii wiązki równoległej. Źródłem promieniowania jest lampa rentgenowska o liniowym ognisku i anodzie Cu. Wiązka promieniowania jest monochromatyzowana (linia Kα1=1.5406Å) zwierciadłem Johanssona lub też zwierciadłem płaskim, w zależności od wybranej geometrii pomiaru. Uchwyt na próbki umożliwia pomiary próbek o ilościach nieprzekraczających 1 mg. Linia wiązki rozproszonej wyposażona jest w dwa detektory: detektor półprzewodnikowy (paskowy) oraz licznik proporcjonalny. Dwie wymienne kamery goniometru umożliwiają pomiary niskokątowe (GID) oraz pomiary w temperaturach w zakresie od temperatury pokojowej do 1400oC.
Dyfraktometr rentgenowski Empyrean firmy PANalytical wraz z wyposażeniem:
Dyfraktometr proszkowy, dwukołowy o średnicy goniometru 240mm. Oprócz standardowych pomiarów w geometrii Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych i filtra Ni, dyfraktometr wyposażony jest w szereg dodatkowych elementów optyki. W zależności od typu pomiaru do dyspozycji jest cztero odbiciowy monochromator wysokiej rozdzielczości lub zwierciadło ogniskujące. Ponadto trzy wymienne uchwyty na próbkę do pomiarów w transmisji, w kapilarze oraz kołyska Eulera (pięć stopni swobody: X-Y-Z-phi-chi).
Typy realizowanych pomiarów
XRD (X-Ray Diffraction) – geometria Bragg-Brentano z monochromatorem Johanssona:
- Jakościowa i ilościowa analiza fazowa w oparciu o bazy danych ICDD PDF4+.
- JAnaliza fazowa jakościowa i ilościowa w funkcji temperatury (od RT do 1600oC).
XRD (X-Ray Diffraction) – pomiary w transmisji lub w kapilarze z użyciem zwierciadła ogniskującego:
- Określenie parametrów strukturalnych.
GID (Grazing Incidence Diffraction) – wiązka równoległa przy kącie ślizgowym:
- Analiza fazowa obszarów przypowierzchniowych.
XRR (X-Ray Reflectivity) – pomiary blisko kąta granicznego z użyciem zwierciadła ogniskującego:
- Analiza grubości i morfologii cienkich warstw.
SAXS/WAXS (Small Angle X-ray Scattering/Wide Angle X-ray Scattering) – pomiary transmisyjne blisko kąta zerowego:
- Średni rozmiar i rozkład wielkości porów/ziaren.
Mapowanie przestrzeni odwrotnej, „rocking curves” – pomiary z użyciem monochromatora wysokiej rozdzielczości:
- Zależności epitaksjalne cienkich warstw.
Spektroskopia Fluorescencji Rentgenowskiej z Dyspersją Długości Fali (WDXRF):
Spektrometr WDXRF Axios mAX z lampą Rh o mocy 4kW firmy PANalytical.
Jedna z najlepszych technik analitycznych, umożliwia analizę składu pierwiastkowego w próbkach stałych (proszki, spieki, ceramika, metale). Metoda ta, oparta jest na pobudzeniu emisji rentgenowskiego promieniowania charakterystycznego wiązką wysokoenergetycznych fotonów (również w zakresie długości rentgenowskich). Analiza promieniowania charakterystycznego odbywa się przy użyciu monochromatorów a więc analizując długość fali emitowanej z próbki. Za pomocą tej techniki pomiarowej możliwe jest nie tylko określenie składu pierwiastkowego w zakresie niemalże całego układu okresowego pierwiastków (od boru do uranu), ale także określenie ilościowe procentowego wagowego udziału poszczególnych pierwiastków w próbce. Wysoka czułość tej metody umożliwia detekcję nawet śladowych (na poziomie ppm) ilości lekkich pierwiastków takich jak np. bor, węgiel, azot, itd.
Lokalizacja pracowni
Pracownia znajduje się w budynku B8, pokój: −1.24.
Telefon bezpośredni do pracowni: 46-92
lub do pokoju 335: 25-24
Osoby odpowiedzialne za pracownię
dr Bartosz Handke (kierownik pracowni)
bhandke@agh.edu.pl
mgr Łukasz Klita (pracownik techniczny)
klita@agh.edu.pl
Formularz zlecenia na wykonanie pomiarów dla Wydziału (WIMIC AGH)