Pracownia AFM
W Pracowni AFM znajduje się mikroskop sił atomowych (Atomic Force Microscope - AFM) MULTIMODE 8 firmy Bruker, zaliczany do rodziny mikroskopów z skanującą sondą (Scanning Probe Microscopy - SPM). Umożliwia on obrazowanie topografii powierzchni próbki z rozdzielczością nanometryczną. Możliwie jest określenie właściwości powierzchni takich jak szorstkość, wielkość ziaren, układów czy agregatów, czy rozmiary porów. Skanowanie powierzchni wykonywane jest w trybach kontaktowym lub semikontaktowych Peak Force Tapping oraz Tapping. Ponadto istnieje możliwość uzyskania dodatkowych informacji dzięki badaniu e.g. właściwości magnetycznych (Magnetic Force Microscopy - MFM) czy elektrostatycznych (Electrostatic Force Microscopy - EFM), czy też pomiarów z modyfikowaną sondą. Rozmiar badanych obszarów może wahać się między 100 μm w płaszczyźnie XY przy maksymalnie 5 μm w osi Z a ok. 250 nm w płaszczyźnie XY. Rozdzielczość pomiarów może osiągać w osi Z 0,02 nm, a w płaszczyźnie XY 2 nm (rozdzielczość jest zależna od charakterystyki próbki i trybu pracy mikroskopu).
Formularz zlecenia na wykonanie pomiarów dla Wydziału (WIMIC AGH)